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影響光電對(duì)射探測(cè)器響應(yīng)速度的主要因素
  • 更新時(shí)間:2018-11-26      瀏覽次數(shù):3066
    • 我們都知道光電對(duì)射探測(cè)器正常工作所能探測(cè)到入射光信號(hào)的調(diào)制頻率是有限的,調(diào)制頻率高于光電對(duì)射探測(cè)器頻率響應(yīng)的入射光信號(hào)將不能被正確探測(cè)出,但有時(shí)候我們操作光電對(duì)射探測(cè)器的過(guò)程中會(huì)因?yàn)槟承┰驅(qū)е鹿怆妼?duì)射探測(cè)器的響應(yīng)速度受到影響,那么到底是什么影響了光電對(duì)射探測(cè)器的響應(yīng)速度?下面小編給大家講一下吧
      (1)耗盡區(qū)內(nèi)載流子的渡越時(shí)間。當(dāng)耗盡區(qū)內(nèi)的電場(chǎng)達(dá)到飽和時(shí),載流子以大漂移速率Vs運(yùn)動(dòng),設(shè)定耗盡區(qū)寬度餓。
      (2)耗盡區(qū)外載流子擴(kuò)散時(shí)間。載流子擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)較慢,而且大部分產(chǎn)生在耗盡區(qū)外的載流子壽命較短,很快就會(huì)復(fù)合。只有在耗盡區(qū)附近的部分載流子能夠擴(kuò)散進(jìn)入耗盡區(qū),并在電場(chǎng)作用下才能形成光生電流。
      (3)光電二極管耗盡區(qū)電容。耗盡層的電容是影響速度的主要因素,這就意味著大面積的光電對(duì)射探測(cè)器不能用于探測(cè)調(diào)制頻率較高的光信號(hào)。加大光電對(duì)射探測(cè)器本征層的寬度對(duì)提高量子效率和減小光電對(duì)射探測(cè)器電容是一致的,而增大寬度意味著載流子在吸收區(qū)內(nèi)的渡越時(shí)間將會(huì)增加。減小光電對(duì)射探測(cè)器的面積可以有效減少結(jié)電容和暗電流,但是小面積的光電對(duì)射探測(cè)器給光纖的有效耦合帶來(lái)了難度。因此,為了優(yōu)化響應(yīng)速度,需要選擇適當(dāng)?shù)奈丈疃群凸怆妼?duì)射探測(cè)器面積。比較合理的做法是選擇一定的耗盡層寬度,使得載流子渡越時(shí)間是調(diào)制周期的一半
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